На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛЬНЫХ ТЕЛ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | |
Номер публикации патента: 2331894 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R027/26 | Аналоги изобретения: | RU 2098016 C1, 10.12.1997. RU 1095812 C1, 10.11.1997. RU 2078336 C1, 27.04.1997. SU 181755 A1, 27.08.1995. SU 1830491 A1, 30.07.1993. US 5345243 A, 06.09.1994. |
Имя заявителя: | Открытое акционерное общество Научно-производственная Компания "Высокие Технологии" (RU) | Изобретатели: | Турковский Иван Иванович (RU) | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество Научно-производственная Компания "Высокие Технологии" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к биологии, сельскому хозяйству, пищевой промышленности, аналитической химии, материаловедению, медицине, косметологии и пр. Предлагаемый способ измерения диэлектрических характеристик материальных тел включает генерацию СВЧ-сигнала, разделение его на опорный и зондирующий сигналы, облучение тела СВЧ-сигналом при контакте волноводного зонда с исследуемым материалом, прием отраженного, опорного и суммарного сигналов и их детектирование.
|