|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ НИЗКОИМПЕДАНСНЫХ МАТЕРИАЛОВ НА СВЧ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2253123 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R027/26 | | Аналоги изобретения: | БРАНДТ А.А., Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах, М., Физматгиз, 1963, с.120. RU 2194285 С1, 10.12.2002. RU 2199760 С1, 27.02.2003. SU 1626136 А1, 07.02.1991. US 4801862 А, 31.01.1989. US 4996489 А, 26.02.1991. ЕР 0657733 А2, 14.06.1995. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" (RU) | | Изобретатели: | Дмитриенко Г.В. (RU)
Трефилов Н.А. (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области измерения электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих низкоимпедансных материалов типа углепластиков, применяемых в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента