|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ БОЛЬШИХ ЗНАЧЕНИЙ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ИМПЕДАНСНЫХ МАТЕРИАЛОВ НА СВЧ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2231078 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R027/04 | | Аналоги изобретения: | БРАНДТ А.А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. - М.: Физматгиз, 1963, с.192. RU 2194285 C1, 10.12.2002. RU 94039385 A1, 20.07.1996. US 4866369 А, 12.09.1989. |
| Имя заявителя: | Ульяновский государственный технический университет (RU) | | Изобретатели: | Дмитриенко Г.В. (RU)
Трефилов Н.А. (RU) | | Патентообладатели: | Ульяновский государственный технический университет (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области радиоизмерений параметров поглощающих диэлектрических материалов на СВЧ, в частности к измерению комплексной относительной диэлектрической проницаемости композиционных материалов типа углепластиков, характеризующихся большими значениями комплексной относительной диэлектрической проницаемости, имеющих шероховатую поверхность.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента