|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЧИСТОТЫ МАТЕРИАЛА ЭЛЕКТРОПРОВОДНОГО ИЗДЕЛИЯ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2115934 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R027/14 G01R027/00 G01R027/02 | | Аналоги изобретения: | SU, авторское свидетельство, 1295315, G 01 N 27/82, 07.03.87. SU, авторское свидетельство, 211130, G 01 N 27/90, 08.04.68. US, патент 4646013, G 01 N 27/90, G 01 R 33/12, 24.02.87. |
| Имя заявителя: | Уханов Сергей Иванович | | Изобретатели: | Иванов В.В.
Инкин В.Н.
Уханов С.И.
Уханов Ю.И. | | Патентообладатели: | Уханов Сергей Иванович |
Реферат | |
Изобретение относится к исследованию и анализу материалов с помощью электрических средств и предназначено для контроля неоднородности электропроводного изделия по толщине материала, например, при проверки возможной подделки изделия в форме слитка из драгоценного или редкого металла. Способ основан на зондировании скин-слоя материала токами различных частот. Для каждого значения частоты переменного тока определяют силу тока и/или напряжения на исследуемом участке изделия. Определение резистивной характеристики каждого слоя материала изделия, расположенного на глубине, соответствующей значениям двух смежных частот заданного диапазона, позволяет получить информацию о нарушении однородности материала в более тонкой, чем скин-слой, прослойке материала. 2 с. и 4 з.п. ф-лы.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента