|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА И ЭНЕРГИЙ СВЯЗИ ОСТОВНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ |  |
Номер публикации патента: 2170421 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N023/227 | | Аналоги изобретения: | СИХ М.П., Бриггс Д. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. - M.: Мир, 1987, с.221-241 и 598. FR 2600422 A1, 24.12.1987. GB 2268802 A, 19.01.1994. DE 2105805 B2, 25.10.1979. |
| Имя заявителя: | Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН | | Изобретатели: | Гордеев Ю.С.
Микушкин В.М.
Сысоев С.Е. | | Патентообладатели: | Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области анализа материалов с помощью рентгеновского излучения и может быть использовано для неразрушающего анализа химического состава многокомпонентных материалов и определения энергии связи остовного уровня атома, находящегося в определенном химическом состоянии. Для этого в известном способе, включающем измерение линии фотоэлектронного спектра по меньшей мере одного элемента, разложение ее по известному набору элементарных составляющих, соответствующих различным химическим фазам, и известной последовательности энергий связи остовного электрона выбранного элемента в этих фазах, минимизацию функционала ошибок между измеренной линией спектра и суммарной расчетной огибающей набора элементарных составляющих с выбором их амплитуд и ширины в качестве свободных параметров и определение искомого состава по относительному вкладу этих составляющих в разлагаемую линию спектра с учетом стехиометрии химических фаз согласно формуле изобретения, вышеупомянутые операции производят для каждой линии двух или более выбранных элементов, дополнительно выбирая в качестве свободных параметров энергии связи элементов в химич. фазах и, сравнивая полученные для всех линий спектра результаты между собой, варьируют свободными параметрами до совпадения результатов с учетом заданной ошибки. Техническим результатом изобретения является возможность без использования эталонов определять с высокой точностью не только химический состав сложных соединений, но и энергий связи элементов. 6 ил., 2 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента