На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ АНАЛИЗА СОСТАВА МАТРИЦЫ КОМПОЗИЦИОННОГО МАТЕРИАЛА | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2030734 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | G01N023/00 C22C029/00 | Аналоги изобретения: | 1. Патент Великобритании N 1150577, C 01N 23/00, 1969. Батырев В.А. "Рентгено-спектральный электронно-зондовый микроанализ". М.: Металлургия, 1982, с.83-95. |
Имя заявителя: | Днепропетровский государственный университет (UA) | Изобретатели: | Твердохлебова Светлана Васильевна[UA] Спиридонова Ирина Михайловна[UA] Жудра Александр Павлович[UA] Белый Александр Иванович[UA] | Патентообладатели: | Днепропетровский государственный университет (UA) |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Сущность изобретения: способ включает подготовку образцов, возбуждение излучения исследуемого вещества и разложение его в спектр, обработку полученных спектрограмм и нахождение массовой доли элемента в образцах. При этом для подготовки образцов используют поверхность поперечного сечения композита и обрабатывают ее до стандартной шероховатости не более 20 мкм, возбуждение излучения осуществляют электрическим искровым разрядом в режиме выраженной селективности эрозии матрицы, а массовую долю элемента определяют оптическим эмиссионным методом. 2 табл.
|