RU 2244909 C2, 20.01.2005. SU 1811276 A1, 10.11.1995. SU 1249363 A1, 07.08.1986.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф.Решетнева" (RU)
Изобретатели:
Орлов Александр Сергеевич (RU) Орлов Сергей Александрович (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф.Решетнева" (RU)
Реферат
Данное изобретение относится к области испытаний на ударные воздействия и может быть использовано в первую очередь при проведении испытаний на высокоинтенсивные ударные воздействия различных устройств, имеющих в своем составе многослойные устройства в виде, например, пакетов пластин из композиционных материалов, сотовых панелей и т.д. Технический результат изобретения направлен на повышение точности определения механизма демпфирования и его численных характеристик. Способ определения демпфирующих характеристик многослойных устройств при ударном воздействии заключается в ударном воздействии на испытуемое устройство с помощью разделяемого пиротехнического устройства, измерении импульса силы и определении динамической реакции испытуемого устройства с помощью акселерометров и датчиков деформации, причем сначала волна деформаций создается в волноводе без установленного объекта испытаний. После чего по анализу амплитудных спектров и ударных спектров ускорений делают заключение о демпфирующих свойствах многослойного устройства. Причем сначала разрабатывают модели демпфирования в материалах слоев многослойного устройства, затем в волноводе без установленного объекта испытаний создают ударные воздействия, изменяя амплитуды воздействий от минимальных, воспроизводимых испытательным оборудованием, до максимальных эксплуатационных уровней, далее проводят испытания многослойного устройства в несколько этапов, нагружая на каждом этапе один из его слоев. При этом амплитуды воздействий на каждом этапе изменяют от минимальных значений, воспроизводимых испытательным оборудованием, до максимальных эксплуатационных уровней, после чего изменяют направление ударного воздействия на многослойное устройство на противоположное и повторяют все этапы испытаний многослойного устройства, и по анализу виброграмм и тензограмм, амплитудных спектров и ударных спектров ускорений принимают модель демпфирования в материалах слоев многослойных устройств и устройства в целом по формуле. 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента