|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| КАМЕРА ОБЛУЧЕНИЯ И/ИЛИ ПОДСЧЕТА ДЛЯ НЕЙТРОННОГО АНАЛИЗА |  |
Номер публикации патента: 2143712 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01T003/00 | | Аналоги изобретения: | US 5278417 A, 11.01.94. SU 465121 A, 25.02.77. JP 58211682 A, 09.12.83. EP 511109 A1, 28.10.92. |
| Имя заявителя: | Коммиссариат а Л'Энержи Атомик (FR) | | Изобретатели: | Кшиштоф Юмиастовски (FR)
Фредерик Лен (FR)
Абдалла Лиусси (FR) | | Патентообладатели: | Коммиссариат а Л'Энержи Атомик (FR) | | Номер конвенционной заявки: | 94 12468 | | Страна приоритета: | FR |
Реферат | |
Использование: для количественного анализа излучателей альфа-частиц в твердых отходах. Сущность: данное изобретение представляет собой камеру счета, предназначенную для выявления нейтронов и содержащую некоторую наружную стенку и внутреннее пространство, предназначенное для размещения в нем тестируемого объекта, причем упомянутая стенка образована первым внутренним покрытием, выполненным из кадмия, внутренним слоем замедлителя нейтронов, промежуточным покрытием, выполненным из кадмия, наружным слоем замедлителя нейтронов и наружным слоем кадмия. В упомянутой стенке выполнено окно для прохождения пучка возбуждающего излучения. В наружном и внутреннем слоях замедлителя нейтронов расположены детекторы нейтронов с гелием-3. Технический результат: изоляция тестируемого материала, подвергаемого облучению, от внешней паразитной фотонейтронной среды; разделение нейтронных сигналов различных энергий; уменьшение времени жизни паразитных нейтронов с тем, чтобы исключить их интерференцию с замедленным полезным сигналом. 4 з.п.ф-лы, 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента