RU 2299445 C1, 20.05.2007. RU 2133479 C1, 20.07.1999. RU 2255369 C1, 27.06.2005. US 7210082 В1, 24.07.2007. US 6473707 В1, 29.10.2002. US 7225376 B2, 29.05.2007. EP 1361446 A2, 26.03.2003.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия войсковой противовоздушной обороны Вооруженных Сил Российской Федерации" (RU)
Изобретатели:
Скачков Сергей Анатольевич (RU) Клюев Алексей Васильевич (RU) Силаев Николай Владимирович (RU) Есин Юрий Иванович (RU) Костенков Владимир Александрович (RU) Бондаренко Денис Леонидович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия войсковой противовоздушной обороны Вооруженных Сил Российской Федерации" (RU)
Реферат
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Технический результат: сокращение времени диагностирования. Сущность: в процессе эксплуатации цифровых блоков набирается статистика по возникающим дефектам. На основе собранных данных определяются частоты появления всех возможных дефектов для каждой группы идентичных цифровых блоков. Перед очередным диагностированием цифрового блока, используя его принципиальную схему и теорию булевых функций, создают аналитическую эталонную копию блока. В процессе диагностирования цифрового блока под управлением программы поочередно моделируют дефект, выбранный из множества возможных, при этом очередность выбора дефекта определяется частотой его появления, начиная с наибольшей. Для каждого промоделированного дефекта формируют псевдослучайные многоразрядные кодовые наборы. Подают их одновременно на входы диагностируемого цифрового блока и его аналитической эталонной копии, на выходах которых регистрируют отклики и сравнивают. Если отклики совпали, то контроль прекращают, а по месту и характеру дефекта, промоделированного в аналитической эталонной копии, определяют место и характер дефекта в диагностируемом цифровом блоке. После чего уточняют статистические данные о частоте появления данного вида дефектов.
Поиск патентов
Получить полное описание патента