Технические условия БУТИ.432234.047ТУ, Устройство фотоприемное матричное охлаждаемое, п.п.2.8.1, 2.8.2, 2.8.5, Методика испытания МФПУ на безотказность, 2006. Бурлаков И.Д. и др. Метод оценки характеристик безотказности матричных ФПУ по зависимости фотоэлектрических параметров от наработки: Тез. XX Междунар. конф. по фотоэлектронике и приборамночного видения. - М.: ФГУП «НПО "Орион"», 2008. Бурлаков И.Д. и др. Испытания на безотказность многорядных и матричных фотоприемников на основе фотодиодов из КРТ. Прикладная физика.- 2008, 2. Бурлаков И.Д. и др. Испытания на безотказность многорядных и матричных фотоприемников на основе фотодиодов из КРТ. Тез. XIX Международной конференции по фотоэлектронике и приборам ночного видения. - М.: ФГУП «НПО "Орион"», 2006.
Имя заявителя:
Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "Орион" (RU)
Изобретатели:
Бурлаков Игорь Дмитриевич (RU) Болтарь Константин Олегович (RU) Патрашин Александр Иванович (RU) Яковлева Наталья Ивановна (RU) Дегтярев Евгений Иванович (RU) Солодков Алексей Аркадьевич (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "Орион" (RU)
Реферат
Изобретение предназначено для испытания безотказности инфракрасных многоэлементных фотоприемных устройств (ИК МФПУ), в которых матрица фоточувствительных элементов установлена внутри герметизированного корпуса, стыкуется с мультиплексором или растром с помощью проводящих индиевых микростолбиков, а ее рабочая температура ниже температуры окружающей среды. Сущность изобретения: для испытания безотказности ИК МФПУ задают продолжительность суммарной наработки устройства при заданных температурах внешней среды и максимальное время непрерывной работы устройства. Наработку осуществляют циклами, состоящими из выхода устройства на рабочую температуру, включения устройства не менее чем на одну секунду, выключения устройства и повышения его рабочей температуры до заданной температуры внешней среды. При этом количество циклов определяют из отношения продолжительности суммарной наработки к заданному максимальному времени непрерывной работы устройства. После наработки измеряют контролируемый фотоэлектрический параметр при рабочей температуре устройства. Критерием отказа является ухудшение значения параметра ниже заданной величины. Задачей изобретения является сокращение времени испытания. 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента