BIRCH J.R., PARKER T.J. Infrared and Millimeter Waves, v.2, ch.3, Dispersive Fourier Transform Spectrometry, Academic Press, N.Y., 1979, p.180-208. Егорова Л.В. и др. Фурье-спектрометры статического типа. - Оптико-механическая промышленность, 1992, 2, с.3-14. US 7206073 B2, 17.04.2007. RD 267037 A, 10.07.1986. RU 2265827 C2, 10.12.2005. SU 1622775 A1, 23.01.1991. AT 504654 A4, 15.07.2007.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) (RU)
Изобретатели:
Кирьянов Анатолий Павлович (RU) Никитин Алексей Константинович (RU) Жижин Герман Николаевич (RU) Головцов Николай Иванович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский университет дружбы народов" (РУДН) (RU)
Реферат
Изобретение относится к оптическим методам исследования материалов, а именно к определению спектров комплексной диэлектрической проницаемости или оптических постоянных. Способ заключается в размещении в каждом плече двухлучевого интерферометра по одному идентичному герметичному контейнеру с прозрачными окнами, в одном из которых в измерительном плече размещают прозрачный образец исследуемого вещества. В контейнере опорного плеча размещают эталонное тело, толщиной, равной толщине образца, и изготовленное из вещества, с показателем преломления n0, монотонно зависящим от частоты излучения и отличающимся от показателя преломления исследуемого вещества n в пределах полосы излучения не более чем на величину (n-n0)=min/a, где а - расстояние, проходимое излучением в образце, min - минимальная длина волны излучения. Пропускают через оба контейнера излучение и дискретно регистрируют интерферограмму, формируемую на выходе интерферометра при изменении разности оптических путей излучения в опорном и измерительном плечах по заданному закону. Обрабатывают полученную интерферограмму с помощью полного Фурье-преобразования. Изобретение позволяет повысить точность измерений и расширить класс исследуемых веществ. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента