D.Lovall at all. Phys. Rev. В 61, 5683-5691 (2000) A.M.Rao at all., Science 275, p.187-191 (1997). WO 2007139086 A1, 06.12.2007. JP 2007169091 A, 05.07.2007. KR 20010049547 A, 15.05.2001. RU 2039931 C1, 20.07.1995.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии наук Институт неорганической химии им. А.В.Николаева Сибирского отделения РАН (RU)
Изобретатели:
Окотруб Александр Владимирович (RU) Гусельников Артем Владимирович (RU) Асанов Игорь Петрович (RU) Кудашов Алексей Геннадьевич (RU) Булушева Любовь Геннадьевна (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Институт неорганической химии им. А.В.Николаева Сибирского отделения РАН (RU)
Реферат
Изобретение относится к области исследования материалов в нанотехнологии и, в частности, к способу измерения диаметра углеродных нанотруб (УНТ) в диапазоне от одного до нескольких десятков нанометров. Технический результат изобретения - сокращение времени измерений диаметра УНТ в диапазоне расстояний от нанометров до десятков нанометров и упрощение процесса измерения, позволяющего одновременно определять диаметр УНТ в широком диапазоне и распределение диаметров УНТ, находящихся в образце. Сущность изобретения: в способе определения диаметра нанотруб, включающем измерение ионного тока, исследуемый образец наносят на сетчатый катод, расположенный между анодом и детектором ионов, подают на анод пилообразное напряжение, а на детектор ионов - отрицательное постоянное напряжение и измеряют вольт-амперную характеристику ионного тока, на которой наблюдают серию пиков, затем на вольт-амперной характеристике находят величины напряжений, соответствующие этим пикам, и сравнивают их с соответствующими напряжениями в вольт-амперной характеристике калибровочного образца, по которым определяют размеры диаметров нанотруб во всем образце. 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента