АЛЕСКОВСКИЙ В.Б. Курс химии надмолекулярных соединений. - Л.: изд. Ленинградского университета, 1990, - 284 с. Механика полимеров, 1973, 4, с.737. SU 1686069 A1, 23.10.1991. JP 2001165851 A, 22.06.2001. RU 2301990 C1, 27.06.2007. RU 2212650 C1, 20.09.2003.
Имя заявителя:
Закрытое акционерное общество "СЕМ технолоджи" (RU)
Изобретатели:
Бузоверя Марина Эдуардовна (RU) Щербак Юрий Петрович (RU)
Патентообладатели:
Закрытое акционерное общество "СЕМ технолоджи" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области исследования физико-химического состояния материалов при изучении механизма воздействия внешних факторов и может быть использовано для контроля качества материалов при создании новых материалов, в том числе, на основе нанотехнологий. Способ основан на анализе надмолекулярной структуры материала до и после внешнего воздействия. При анализе надмолекулярной структуры материала измеряют ее морфологические и текстурные параметры, в качестве которых используют среднюю длину трещин и/или границ доменов, площадь поверхности объекта, занимаемую трещинами, средний угол отклонения трещин от направления к центру схождения трещин, фрактальную размерность надмолекулярной структуры. По изменению равномерности распределения измеренных параметров оценивают состояние структуры материала как нестабильное, а при сохранении равномерности распределения параметров оценивают состояние структуры материала как стабильное. Для определения направленности процессов, происходящих при перестройке структуры, используют тестовый образец, измеряют морфологические и текстурные параметры его надмолекулярной структуры, сравнивают их с морфологическими и текстурными параметрами анализируемого материала до и после внешнего воздействия и судят об упорядочивании или о разупорядочивании структуры. Технический результат - обеспечение большей точности определения реакции материала на внешнее воздействие, повышение достоверности получаемой информации и обеспечение возможности ее количественной оценки. 2 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента