|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ПОРОМЕТРИИ СКВОЗНЫХ КАНАЛОВ НАНОМЕТРИЧЕСКОГО РАЗМЕРА В ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ МЕМБРАНАХ С ПОМОЩЬЮ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2314251 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | B82B003/00 | | Аналоги изобретения: | RU 2115915 C1, 20.07.1998. RU 2216720 C2, 20.11.2003. S.VETTER, R.SPOHR. Aplication of ion traek membranes for preparation of metallic microstructures. Nucllear instruments and Methods in Physics Rescerch. В 79 (1993), 691-694. |
| Имя заявителя: | Объединенный институт ядерных исследований (RU) | | Изобретатели: | Дмитриев Сергей Николаевич (RU)
Реутов Валерий Филиппович (RU)
Микляев Михаил Федорович (RU) | | Патентообладатели: | Объединенный институт ядерных исследований (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их структуры и физических свойств. Сущность изобретения: в способе подготовки образца для порометрии сквозных каналов нанометрического размера в твердотельных мембранах с помощью просвечивающей электронной микроскопии, включающем гальваническое осаждение металлического осадка в сквозных травленых каналах мембраны, мембрана вакуумно-плотно прижата к торцевой поверхности подложки-катода, в качестве которой использов
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента